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光路干涉是物理學(xué)中的一個現(xiàn)象，指的是兩列或兩列以上的波在空間中相遇時，由于它們的疊加或抵消，從而形成新的波形。這一現(xiàn)象在光學(xué)中尤為明顯，尤其是在光的干涉中，表現(xiàn)為在某些區(qū)域光振動始終加強（形成明條紋），而在另一些區(qū)域則始終減弱（形成暗條紋），從而出現(xiàn)明暗相間的干涉條紋圖樣。

光路干涉檢測范圍

電子元件、金屬材料、化妝品、藥品包裝、建筑材料、光學(xué)鏡片、航空航天零部件、汽車零配件、半導(dǎo)體器件、液晶顯示屏、生物細胞、醫(yī)療設(shè)備、食品包裝、玻璃制品、纖維材料等。

光路干涉檢測項目

表面粗糙度、光譜特性、薄膜厚度、形貌偏差、干涉條紋密度、幅度分布、頻譜分布、干涉對比度、光學(xué)透過率、反射率、折射率、位移變化、平面度、曲率半徑、斜率角度、表面平整度、相位差、圖像畸變、光學(xué)色散、步進距離誤差等。

光路干涉檢測標(biāo)準(zhǔn)(部分)

DIN 65571-4-1992 航空和航天.增強纖維.激光干涉法測定纖維直徑

DIN EN ISO 3868-1995 金屬和其他無機鍍層.鍍層厚度測定.F氏多光束干涉法

GB/T 7962.3-2010 無色光學(xué)玻璃測試方法 第3部分：光學(xué)均勻性 全息干涉法

ASTM E2244-2011 用光學(xué)干涉儀測量反射薄膜共面長度的標(biāo)準(zhǔn)試驗方法

ASTM E2246-2011 用光學(xué)干涉儀測量反射薄膜應(yīng)變梯度的標(biāo)準(zhǔn)試驗方法

BS ISO 16063-11-1999 振動和沖擊變換器的校準(zhǔn)方法 第11部分:使用激光干涉測量的初步振動校準(zhǔn)

ASTM E2245-2011 用光學(xué)干涉儀測量反射薄膜殘余應(yīng)力的標(biāo)準(zhǔn)試驗方法

DIN 50441-3-1985 半導(dǎo)體工藝材料的檢驗; 半導(dǎo)體片幾何尺寸的測量; 用多射線干涉法測定拋光片表面的平面偏差

ASTM F1364-2003(2010) 使用校準(zhǔn)設(shè)備證實非破壞性干涉激光成像輪胎檢驗系統(tǒng)的檢驗?zāi)芰Φ囊?guī)程

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光路干涉檢測流程

1、溝通需求(在線或電話咨詢);

2、寄樣(郵寄樣品支持上門取樣);

3、初檢(根據(jù)客戶需求確定具體檢測項目);

4、報價(根據(jù)檢測的復(fù)雜程度進行報價);

5、簽約(雙方確定--簽訂保密協(xié)議);

6、完成實驗(出具檢測報告，售后服務(wù))。

檢測報告作用

1、為產(chǎn)品提供進出口服務(wù)。

2、為相關(guān)的研究論文提供數(shù)據(jù)。

3、控制產(chǎn)品品質(zhì)，降低產(chǎn)品成本。

4、根據(jù)檢測報告的數(shù)據(jù)，改進產(chǎn)品質(zhì)量。

5、協(xié)助公檢法部門對樣品質(zhì)量進行檢測或成分化驗。

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