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單晶硅是單質(zhì)硅的一種形態(tài)。熔融的單質(zhì)硅在凝固時(shí)硅原子以金剛石晶格排列成許多晶核，如果這些晶核長(zhǎng)成晶面取向相同的晶粒，則這些晶粒平行結(jié)合起來(lái)便結(jié)晶成單晶硅。單晶硅檢測(cè)機(jī)構(gòu)哪家好？單晶硅檢測(cè)費(fèi)用多少錢？復(fù)達(dá)檢測(cè)中心可為您提供單晶硅檢測(cè)相關(guān)服務(wù)。

單晶硅檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)（部分）

1、GB/T 12632-1990 單晶硅太陽(yáng)電池總規(guī)范

2、DB1310/T 227—2020 電子專用材料單晶硅生長(zhǎng)用石英坩堝工藝技術(shù)規(guī)范

3、DB13/T 5092-2019 太陽(yáng)能級(jí)類單晶硅錠用 方籽晶通用技術(shù)要求

4、GJB 1431A-2014 空間用單晶硅太陽(yáng)電池通用規(guī)范

5、DB61/T 511-2011 太陽(yáng)電池用單晶硅棒檢驗(yàn)規(guī)則

6、DB13/T 1314-2010 太陽(yáng)能級(jí)單晶硅方棒、單晶硅片

7、JC/T 1048-2007 單晶硅生長(zhǎng)用石英坩堝

8、KS D 2715-2006 單晶硅和多晶硅納米/微薄膜拉伸的試樣

9、SJ/T 10173-1991 TDA75單晶硅太陽(yáng)電池

10、DIN 50453-1-1990 半導(dǎo)體工藝材料的檢驗(yàn).蝕刻混合劑浸蝕率的測(cè)定.第1部分:單晶硅測(cè)重法

11、DIN 50431-1988 半導(dǎo)體材料的試驗(yàn).用探針直線排列的四探針/直流法測(cè)量單晶硅或鍺單晶體的電阻率

12、CSN 34 5941-1984 砷化鎵和磷化鎵單晶硅．電阻率和霍爾系數(shù)測(cè)定

單晶硅檢測(cè)范圍

單晶硅錠、單晶硅板、單晶硅棒、單晶硅料、碳化硅單晶片等。

單晶硅檢測(cè)項(xiàng)目

含量檢測(cè)、純度檢測(cè)、晶向檢測(cè)、成分檢測(cè)、碳含量檢測(cè)、全氧含量檢測(cè)、拉曼光譜檢測(cè)、金屬含量檢測(cè)等。

單晶硅檢測(cè)流程

1、溝通需求：了解待檢測(cè)項(xiàng)目，確定檢測(cè)范圍；

2、報(bào)價(jià)：根據(jù)檢測(cè)項(xiàng)目及檢測(cè)需求進(jìn)行報(bào)價(jià)；

3、簽約：簽訂合同及保密協(xié)議，開(kāi)始檢測(cè)；

4、完成檢測(cè)：檢測(cè)周期會(huì)根據(jù)樣品及其檢測(cè)項(xiàng)目/方法會(huì)有所變動(dòng)，具體可咨詢檢測(cè)顧問(wèn)；

5、出具檢測(cè)報(bào)告，進(jìn)行后期服務(wù)；

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