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薄膜xrd測試,X射線衍射檢測機(jī)構(gòu)

X射線衍射(XRD)是一種常用于薄膜測量的無損分析技術(shù)。它通過測量X射線在薄膜表面的衍射角度,可以得出薄膜的晶體結(jié)構(gòu)、晶格常數(shù)、晶粒尺寸等信息。

薄膜xrd.png

薄膜xrd測試標(biāo)準(zhǔn)(部分)


YB/T 5360-2020金屬材料 定量極圖的測定 X射線衍射法


SN/T 3514-2013電工鋼晶粒取向與無取向鑒定方法 X射線衍射測定織構(gòu)法


ISO 22278-2020精細(xì)陶瓷(高級陶瓷,高級工業(yè)陶瓷)—使用平行X射線束的XRD方法對單晶薄膜(晶片)的結(jié)晶質(zhì)量的測試方法


GB/T 36655-2018電子封裝用球形二氧化硅微粉中α態(tài)晶體二氧化硅含量的測試方法 XRD法


ISO 22278-2020精細(xì)陶瓷(高級陶瓷,高級工業(yè)陶瓷)—使用平行X射線束的XRD方法對單晶薄膜(晶片)的結(jié)晶質(zhì)量的測試方法


更多相關(guān)檢測標(biāo)準(zhǔn)歡迎聯(lián)系工程技術(shù)人員咨詢。


薄膜xrd測試范圍


超導(dǎo)薄膜、導(dǎo)電薄膜、電阻薄膜、半導(dǎo)體薄膜、介質(zhì)薄膜、絕緣薄膜、壓電薄膜、鐵電薄膜、光電薄膜、磁電薄膜、磁光薄膜等。


薄膜xrd測試項目


常規(guī)掃描、小角掃描、微區(qū)掃描、掠入射、高低溫原位、xrd衍射圖譜分析、xrd圖譜特征峰分析、xrd圖譜晶粒尺寸分析等。


薄膜xrd測試流程


溝通需求-寄樣或上門-初檢-報價-簽約-完成實(shí)驗


(具體流程依據(jù)客戶情況而定)


以上關(guān)于薄膜xrd測試的檢測范圍、檢測項目以及檢測標(biāo)準(zhǔn)僅提供參考,復(fù)達(dá)檢測服務(wù)內(nèi)容更多詳情歡迎咨詢解鎖,上海復(fù)達(dá)檢測具體cma\cnas檢測資質(zhì),可出具第三方雙c資質(zhì)報告,寄樣或上門檢測靈活選擇,有需要?dú)g迎聯(lián)系我們溝通檢測詳情。


檢測報告細(xì)節(jié)注意點(diǎn)


(1)檢測報告應(yīng)反映信息的真實(shí)一致性


包括委托委托單位或委托人、材料樣品、檢測條件和依據(jù)、檢測結(jié)果和結(jié)論、需要說明的問題、審核與批準(zhǔn)、有效性聲明等。


(2)檢測報告基本格式注意點(diǎn)


主要由封面、扉頁、報告主頁、附件組成。各部分一般包括檢測報告名稱、編號、檢測類性、委托項目、檢驗檢測機(jī)構(gòu)名稱、報告發(fā)出時間、檢驗檢測機(jī)構(gòu)的地址、聯(lián)系方式等。


(3)檢測報告結(jié)論注意點(diǎn)


結(jié)論應(yīng)明確是否符合規(guī)定要求或是否合格,明確是否符合設(shè)計要求、是否合格應(yīng)由委托單位根據(jù)樣品批的總體檢測結(jié)果統(tǒng)計分析后自己給出。