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電子能譜（photoelectron spectroscopy），利用光電效應(yīng)的原理測(cè)量單色輻射從樣品上打出來的光電子的動(dòng)能（并由此測(cè)定其結(jié)合能）、光電子強(qiáng)度和這些電子的角分布，并應(yīng)用這些信息來研究原子、分子、凝聚相，尤其是固體表面的電子結(jié)構(gòu)的技術(shù)。電子能譜測(cè)試什么單位能做，有哪些檢測(cè)項(xiàng)目？復(fù)達(dá)檢測(cè)中心可為您進(jìn)行電子能譜測(cè)試等服務(wù)。

電子能譜測(cè)試范圍

熱噴涂鋅鋁合金、CDS薄膜、半導(dǎo)體材料、電鍍錫鈷合金鍍層表面膜、催化材料、銅緩蝕劑、薄膜材料等。

電子能譜測(cè)試項(xiàng)目

俄歇電子能譜檢測(cè)、X射線光電子能譜檢測(cè)、紫外光電子能譜檢測(cè)、XPS表面光電子能譜檢測(cè)等。

電子能譜測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

1、GB/T 26533-2011 俄歇電子能譜分析方法通則

2、GB/T 25184-2010 X射線光電子能譜儀檢定方法

3、GB/T 19500-2004 X一射線光電子能譜分析方法通則

4、GB/T 21006-2007 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀 強(qiáng)度標(biāo)的線性

5、GB/T 22571-2017 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜儀 能量標(biāo)尺的校準(zhǔn)

6、GB/T 25185-2010 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 荷電控制和荷電校正方法的報(bào)告

7、GB/T 25187-2010 表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜 選擇儀器性能參數(shù)的表述

8、GB/T 25188-2010 硅晶片表面超薄氧化硅層厚度的測(cè)量 X射線光電子能譜法

9、GB/T 29558-2013 表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜 強(qiáng)度標(biāo)的重復(fù)性和一致性

10、GB/T 29731-2013 表面化學(xué)分析 高分辨俄歇電子能譜儀 元素和化學(xué)態(tài)分析用能量標(biāo)校準(zhǔn)

11、GB/T 28632-2012 表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 橫向分辨率測(cè)定

12、GB/T 28633-2012 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 強(qiáng)度標(biāo)的重復(fù)性和一致性

13、GB/T 28892-2012 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 選擇儀器性能參數(shù)的表述

14、GB/T 28893-2012 表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 測(cè)定峰強(qiáng)度的方法和報(bào)告結(jié)果所需的信息

電子能譜測(cè)試流程

1、溝通需求（在線或電話咨詢）；

2、寄樣（郵寄樣品支持上門取樣)；

3、初檢（根據(jù)客戶需求確定具體檢測(cè)項(xiàng)目）；

4、報(bào)價(jià)（根據(jù)檢測(cè)的復(fù)雜程度進(jìn)行報(bào)價(jià)）；

5、簽約（雙方確定--簽訂保密協(xié)議）；

6、完成實(shí)驗(yàn)（出具檢測(cè)報(bào)告，售后服務(wù)）；

復(fù)達(dá)檢測(cè)中心將會(huì)為您提供完備的檢測(cè)方案，CMA資質(zhì)認(rèn)證機(jī)構(gòu)，詳情可點(diǎn)擊在線咨詢，將會(huì)有工程師為您一對(duì)一解答~