芯片失效分析——復達客戶檢測案例
類別:客戶案例 發布時間:2021-09-01 795 795 2021-09-01
客戶是上海某醫療科技公司,發現其中一臺設備中芯片進行讀寫時操作失敗。據委托方提供的信息,正常芯片DAT和GND引腳的阻抗約為10M歐,這顆異常芯片的阻抗無窮大。故委托方委托我司對故障的芯片進行失效分析。
IEERAM 芯片
對故障的芯片進行失效分析
我司工程師對失效芯片1#和良好芯片2#進行測試。分別對芯片進行了外觀,X-ray,SAM,開蓋觀察,電性能測試。探明失效原因由于第二焊點的焊線脫落導致的。
四氧化三鈷XRD測試——復達客戶檢測案例
委托復達檢測中心對客戶提供的樣品進行XRD測試,要求2度每分鐘,掃描范圍:10-80度。
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